NASA JPL 极限测试：CXMT 存储单元被冻到 -100°C 仍在线
jwt0625 · x · 2026-11-01
推主分享 NASA JPL 的 vHALT 电子器件可靠性测试报告（Ghaffarian 2025），测试对象为 CXMT 的存储单元，通过阶梯式降温考察失效物理：
- 单元在 -65°C 仍可正常工作；降至 -75°C 时出现内核分页错误并失去响应，但在回升到 -45°C 后自行恢复。
- 继续降到 -100°C 时单元仍然在线但完全无响应，回到室温并重新上电后才恢复。
- 配图还展示了 Class P & MEAL 测试的整体 vHALT 流程：确立高低温极限、在 -35/70°C 与 -40/85°C 温循各 200 次、加固改造（去风扇、角部填充、散热片粘接）、振动+温循组合测试、FEA 有限元建模与失效分析，并正在开发 MEAL 的累积损伤指数（CDI）。
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