芯片越缩越小差异越大,数据分析可替代最坏情况设计
blaizedsouza · x · 2026-09-08
SemiEngineering 刊文指出,随着制程不断缩小,同一晶圆甚至同一芯片上的晶体管参数差异(On-Chip Variation)越来越难控制,传统做法是按最坏情况做保守设计,导致性能与功耗都被拖累。作者提出用深度数据分析刻画每颗芯片的实际特性,对冲芯片间的个体差异,从而摆脱一刀切的最坏情况假设。
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