太赫兹脉冲反射法定位先进封装失效,附论文与设备资料

jwt0625 · x · 2026-09-13

作者补充介绍一种先进封装失效定位方法 EOTPR(电光太赫兹脉冲反射法):名称源于早期依赖电光效应采样,如今更常用光电导半导体(PCS)。原理是用一束飞秒光脉冲产生 THz 脉冲,再扫描另一束脉冲的延迟来采样反射信号;延迟可物理控制,飞秒激光极低的抖动带来时域分辨率。

附参考资料:Chen 2025 论文《Open Failure Localization of Advanced Packaging by Terahertz Time Domain Reflectometer》,以及 Teraview 的半导体封装检测页面。

所属事件:太赫兹脉冲反射法助力CoWoS先进封装失效定位(2 条相关)→

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